Analyseurs de paramètres semi-conducteurs

• Analyseur de dispositifs semi-conducteurs d’occasion Agil...

  Le Keysight B1500A (Agilent) Semiconductor Device Analyzer est un instrument modulaire avec une configuration à dix fentes qui prend en charge les mesures IV et CV et aussi rapide pulsation à...

• Système de mesure paramétrique utilisé Mainframe Agilent ...

  Le E5270B prend en charge plusieurs SMU (unités de source / moniteur) pour la source de tension / courant et la mesure de tension / courant avec les meilleures performances de mesure de courant de...

• Unité d’expansion du générateur d’impulsions d’occasion A...

  Les UGP 41501A peuvent être utilisés avec le sélecteur SMU/PGU 16440A pour effectuer des tests d’endurance write/erase sur les cellules mémoire Flash et d’autres types de cellules mémoire non...

• Analyseur de paramètres de semi-conducteur Keithley 4200-...

  Le système de caractérisation de semi-conducteurs Keithley 4200-SCS effectue la caractérisation de dispositifs CC et d'impulsions de qualité laboratoire, le traçage en temps réel et l'analyse avec...

• Module source DC utilisé Agilent 41420 A

  Le module d'unité source / moniteur Agilent / HP 41420 A est conçu pour être utilisé avec l'unité centrale source / moniteur modulaire Agilent / HP 4142 B.

• Mainframe Modular DC Source Agilent 4142 B

  L'unité centrale modulaire de source / moniteur CC Agilent / HP 4142 B présente une architecture flexible et modulaire, des capacités de mesure d'impulsion, une mesure à grande vitesse

• Analyseur de paramètres semi-conducteur Agilent 4145 B

  L'analyseur de paramètres semi-conducteur Agilent / HP 4145 B est capable de caractériser en courant continu complet les dispositifs et matériaux semi-conducteurs.

• Utilisé Semiconductor Parameter Analyzer Agilent 4155A

  L’analyseur de paramètres semi-conducteurs Agilent / HP 4155A offre une précision haute résolution et une large gamme.

• Analyseur de paramètres semi-conducteur Agilent 4155 B

  L'analyseur de paramètres semi-conducteur HP 4155 B Agilent propose quatre unités source / moniteur (SMU) intégrées, deux unités source de tension (VSU) et deux unités moniteur de tension (VMU).

• Utilisé Semiconductor Parameter Analyzer Agilent 4155C

  L’analyseur de paramètres de semi-conducteurs Agilent / HP 4155C est une solution de laboratoire de laboratoire de base rentable et précise pour la caractérisation avancée de l’appareil.

• Analyseur de paramètres semi-conducteur Agilent 4156 A

  Le 4156 A est un analyseur de paramètres semi-conducteur d'Agilent. Les analyseurs de paramètres semi-conducteurs sont des outils tout-en-un utilisés pour un large éventail de capacités de mesure.

• Analyseur de paramètres semi-conducteur Agilent 4156 B

  L'analyseur de paramètres semi-conducteur de précision 4156 B / HP 4156 B Agilent fournit une unité très précise pour la caractérisation des dispositifs.