Analyseur de paramètres de semi-conducteur Keithley 4200-SCS d'occasion

Analyseur de paramètres de semi-conducteur Keithley 4200-SCS d'occasion

Le système de caractérisation de semi-conducteurs Keithley 4200-SCS effectue la caractérisation de dispositifs CC et d'impulsions de qualité laboratoire, le traçage en temps réel et l'analyse avec une haute précision et une résolution sub-fem à amp.

Présentation du produit

Présentation du produit

KEITHLEY 4200-SCS

Le système de caractérisation de semi-conducteurs Keithley 4200-SCS effectue la caractérisation de dispositifs CC et d'impulsions de qualité laboratoire, le traçage en temps réel et l'analyse avec une haute précision et une résolution sub-fem à amp. Le Keithley 4200-SCS offre les capacités les plus avancées disponibles dans un système de caractérisation entièrement intégré, y compris un PC intégré complet avec système d'exploitation Windows et stockage de masse. Son interface auto-documentée, pointer-cliquer accélère et simplifie le processus de collecte des données, afin que les utilisateurs puissent commencer à analyser leurs résultats plus tôt. Des fonctionnalités supplémentaires permettent des capacités de mesure des contraintes adaptées à une variété de tests de fiabilité et fournissent des mesures de précision et une haute résolution avec prise en charge des compteurs LCR.


Les caractéristiques du système Keithley 4200 comprennent:

● Environnement Windows intuitif, pointer-cliquer

● Les préamplis distants uniques étendent la résolution des SMU à 0. 1 fA

● L'instrument CV rend les mesures CV aussi simples que DC IV

● Capacités d'impulsion et d'impulsion IV pour les tests avancés de semi-conducteurs

● La carte Scope offre une fonctionnalité intégrée de mesure de portée et d'impulsion

● Un PC autonome permet une configuration rapide des tests, une puissante analyse des données, des graphiques et des impressions, et un stockage de masse intégré des résultats des tests

● Project Navigator, de style navigateur unique, organise les tests par type d'appareil, permet d'accéder à plusieurs tests et offre un séquençage des tests et un contrôle en boucle

● Contrainte / mesure intégrée, boucle et analyse des données pour les tests de fiabilité pointer-cliquer, y compris cinq tests d'échantillons conformes JEDEC

● Prise en charge intégrée d'une variété de compteurs LCR, de configurations de matrice de commutation Keithley et des générateurs d'impulsions Keithley série 3400 et Agilent 81110

● Comprend des pilotes logiciels pour les principaux sondeurs analytiques

● 2 X 4 2 10 SMU - Deux cartes SMU haute puissance 4 2 10 SMU supplémentaires

● 4 X 4 200-SMU - Quatre 4 cartes SMU de puissance moyenne 200-SMU


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