Mainframe Modular DC Source Agilent  4142 B

Mainframe Modular DC Source Agilent 4142 B

L'unité centrale modulaire de source / moniteur CC Agilent / HP 4142 B présente une architecture flexible et modulaire, des capacités de mesure d'impulsion, une mesure à grande vitesse

Présentation du produit

Présentation du produit

L'unité centrale modulaire de source / moniteur CC Agilent / HP 4142 B présente une architecture modulaire flexible, des capacités de mesure du pouls, des mesures à grande vitesse, huit emplacements de module enfichable, SMU, HCU, HVU, VS / VMU, AFU, améliorer le débit et une mémoire de programme 0010010 gt; 2000 commandes.

L'unité centrale modulaire de source / moniteur CC Agilent / HP 4142 B est un instrument de mesure CC spécialement conçu pour les testeurs de semi-conducteurs CC à haut débit. Composant système entièrement définissable par l'utilisateur, l'Agilent / HP 4142 B présente une architecture modulaire qui vous permet de créer une configuration personnalisée adaptée à vos besoins de mesure.


Huit emplacements de modules enfichables peuvent accueillir n'importe quelle combinaison de modules. Choisissez parmi deux types d'unités source / moniteur (SMU) pour forcer ou mesurer jusqu'à ± 200 V et ± 1 A: une source / moniteur haute intensité (HCU) jusqu'à ± {{ 4}} A, une unité source / moniteur haute tension (HVU) jusqu'à ± 1000 V, une unité source / moniteur tension (VS / VMU) et une unité de rétroaction analogique (AFU). Les capacités de stockage des données de commande et de mesure de l'instrument Agilent / HP 4142 B 00100 10 # 39; couplées à l'interface HP-IB haut débit, minimisent le chargement de l'ordinateur, améliorent le débit, et simplifier la systématisation.


Les caractéristiques et spécifications de l'unité centrale source / moniteur Agilent / HP 4142 B comprennent:

● Architecture flexible et modulaire

● Large plage de mesure à haute résolution

● V: ± 4 µV à ± 1000 V, 0. 05%

● l: ± 20 fA à ± 10 A, 0. 2%

● Capacités de mesure du pouls

● Largeur d'impulsion 1 ms à 50 ms, résolution 100 µs

● Mesure à grande vitesse (typique)

● Sourcing ou surveillance: 4 ms

● Vth, extraction hFE: 12 ms

● Mémoire interne

● Mémoire de programme: 0010010 gt; 2000 commandes (standard)

● Mémoire de données: 4004 points de mesure


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