Le système de test à diode laser pulsée Keithley 2520 est un système intégré et synchronisé pour tester les diodes laser au début du processus de fabrication, lorsqu'un contrôle de température approprié ne peut pas être facilement obtenu. Le Keithley 2520 fournit toutes les capacités d'approvisionnement et de mesure nécessaires pour les tests LIV pulsés et continus (tension de courant lumineux) des diodes laser dans un instrument compact et demi-rack. La synchronisation étroite des capacités de source et de mesure garantit une précision de mesure élevée, même lors de tests avec des largeurs d'impulsion aussi courtes que 500 ns.
Il y a trois canaux de circuits de source et de mesure dans le Keithley 2520. Les trois canaux sont contrôlés par un seul processeur de signal numérique (DSP), ce qui assure une synchronisation étroite des fonctions d'approvisionnement et de mesure. Le canal de commande de diode laser fournit une source de courant couplée à une capacité de mesure de tension. Chacun des deux canaux photodétecteurs fournit une polarisation de tension et une conformité de tension réglables, en plus de la capacité de mesure du courant. Ces trois canaux fournissent toutes les capacités de source et de mesure nécessaires à la caractérisation LIV complète des diodes laser avant leur intégration dans des modules à température contrôlée. En éliminant le besoin de commandes GPIB pour effectuer des balayages de test avec plusieurs instruments distincts, l'approvisionnement et la mesure intégrés du Keithley 2520 permettent une amélioration significative du débit.
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